原子熒光光譜法（AFS）是介于原子發射光譜法和原子吸收光譜法之間的光譜分析技術，它的基本原理就是通過測量待測元素原子蒸氣在輻射能激發下產生的熒光發射強度來確定待測元素含量的方法。
基本原理：氣態自由原子吸收特征光源的輻射后，原子的外層電子躍遷到較高能級，然后又躍遷返回基態或較低能級，同時發射出與原激發波長相同或不同的熒光即為原子熒光。原子熒光是光致發光，也是二次發光。利用這一物理現象發展起來的分析方法被稱為原子熒光光譜分析。
原子熒光光譜法具有哪些優點？
1.有較高的靈敏度和較低的檢出限，元素檢出限在ppb-ppt級別；
2.由于原子熒光的輻射強度與激發光源的強度成比例，采用新的高強度激發光源可進一步降低其檢出限這一特性為改進原子熒光分析檢出限提供了一個有希望的途徑；
3.干擾較少，譜線比較簡單，非色散AFS結構簡單，價格便宜；
4.分析校準曲線線性范圍寬，可達3～5個數量級；
5.由于原子熒光是向空間各個方向發射的，且譜線都在紫外區，采用日盲型光電倍增管作檢測器，比較容易制作多道儀器，因而能實現多元素同時測定。
AFS310雙道原子熒光光譜儀是博維儀器公司集多年技術積淀，精心打造的一款精密分析儀器。廣泛應用于汞（Hg）、砷（As）、銻（Sb）、鉍（Bi）、硒（Se）、碲（Te）、鎘（Cd）、鍺（Ge）、鉛（Pb）、錫（Sn）、鋅（Zn）等11種元素的痕量、超痕量分析，體積小巧，性能穩定，操作簡單。
